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光学测量类

冲击试样缺口投影仪

型号 : CST-50
品牌 : 希欧仪器
价格 : 电议或面议

CST-50型冲击试样缺口投影仪是我们根据目前国内广大用户的实际需求和GB/T229-2007《金属夏比摆锤冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器

CST-50型冲击试样缺口投影仪是我们根据目前国内广大用户的实际需求和GB/T229-2007《金属夏比摆锤冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的光学仪器,该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V或U型缺口轮廓放大投射到投影屏上,与投影屏上冲击试样V和U型缺口标准样板图比对,以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格,其优点是操作简便,检查对比直观,效率高。


 一、主要技术指标:

1、投影屏直径 :180mm

2、工作台尺寸 :

     方工作台尺寸:110×125mm

     方工作台直径:90mm

     工作台玻璃直径:70mm

3、工作台行程 :

     纵向:±10mm

     横向:±10mm

     升降:±12mm

4、工作台转动范围: 0~360°

5、仪器放大倍率:50X

     物镜放大倍率: 2.5X

     投影物镜放大倍率:20x

6、光源(卤钨灯):12V    100W

7、电源: 220V   50Hz

8、外形尺寸:515×224×603mm

9、重量: 20kg


二、设备主要配置:

1.CST-50投影仪主机     一台

2.底座调整钮                四个

3.电源线                      一根

4.卤钨灯                      二个

5.平板玻璃                  一块


 


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